  | |  | Dear Ms. Duhnke,
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| drei führende Hersteller von Lichtmesstechnik präsentieren Ihnen am 20. Mai 2021 auf der Display Week einen Short Course zum Thema „ Fundamentals in Display Metrology“! Gemeinsam referieren Instrument Systems, Konica Minolta und Radiant Vision Systems zu aktuellen Testmethoden zur Bewertung von Display-Eigenschaften, wie z.B. Muraeffekte, Pixel-Uniformität und Flicker, sowie zu Testlösungen für innovative Display-Technologien mit µLED oder in AR/VR-Applikationen.
Melden Sie sich jetzt für den Zugang zur Display Week, 17.-21. Mai 2021 an:
http://www.displayweek.org/2021/Attendee/Registration
Mehr Informationen zur Display Week und zu unserem zweiten Vortrag am 21. Mai 2021 finden Sie in diesem Newsletter weiter unten. Für alle Nicht-Display-Interessierten weisen wir auf eine allgemeine Studie zum Short-Pulse-Testing von temperatur-sensitiven High-Power-LEDs mit unseren Messgeräten hin.
Ihr Instrument Systems Team
sales@instrumentsystems.com
Tel.: +49-89-454943-0
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| Short Course S-2: Fundamentals of Display Metrology
| | Als Teil der virtuellen Display Week Konferenz präsentiert Dr. Reto Häring, Vice President Customer Solutions, gemeinsam mit Radiant Vision Systems und Konica Minolta den Short-Course S2. Der Kurs "Fundamentals of Display Metrology" befasst sich mit den Grundlagen und Anwendungen der Display-Metrologie und stellt Messlösungen und Messtechniken vor. Spannende Themen aus der Welt der Licht- und Farbwissenschaft erklären Messeinheiten, Messstandards sowie Metrologiesysteme vom Spotmeter bis zu bildgebenden Systemen. Auch Testmethoden zur Analyse von Displayeigenschaften wie z.B. Mura, Pixel-Uniformität und Flicker werden neben den neuesten Messlösungen für innovative Displaytechnologien mit µLEDs oder in AR/VR-Devices vorgestellt.
Vortragende: Dr. Reto Häring (Instrument Systems), Jens Jensen (Radiant Vision Systems) und Yutaka Maeda (Konica Minolta)
Online verfügbar ab Donnerstag, 20. Mai 2021
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| | | \\ DISPLAY WEEK Ausstellung |
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| Testsysteme zur Charakterisierung von AR/VR-Geräten | |
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| Für ein perfektes Anwendererlebnis mit AR/VR-Headsets bietet Instrument Systems die speziell entwickelte 2D-Farbmesskamera LumiTop AR/VR an. Ihr AR/VR-Objektiv bildet das menschliche Auge möglichst naturgetreu nach und misst Farbe und Leuchtdichte so, wie es das Auge sieht. Das einzigartige Periskop-Design ermöglicht synchronisierte 2-Augen-Messungen.
Neben dem virtuellen Display enthalten AR/VR-Headsets weitere Typen von Lichtquellen und Sensoren. Auch dafür hat Instrument Systems die richtigen Testsysteme, wie z.B. für die IR-Lichtquellen (NIR LEDs / VCSEL) eines Headsets, welche häufig für Gestik- und Objekterkennung verwendet werden.
- Test des virtuellen Bildes mit LumiTop AR/VR
- Pixeltest der Bildquelle mit LumiTop X150 (bis zu 600 MP)
- Räumlich aufgelöste Spektren mit DMS Goniometer
- 3D-Gestenerkennung-Sensortest mit Far-field-Kamera
- Time-of-flight-Sensortest für Pulse bis 1 ns
Preview der LumiTop X20
Ein besonderes Highlight auf der Display Week ist die Preview der brandaktuellen LumiTop X20, die im Herbst 2021 erwartet wird. Als Verbesserung zu den bereits bewährten Vorgängermodellen 2700 und 4000 bietet die LumiTop X20 eine hohe Kameraauflösung, ein flexibles Sichtfeld und einen hohen Dynamikbereich für hohe und niedrige Leuchtdichtemessungen. Geeignete Anwendungen sind die Homogenität (insbesondere hohe / niedrige Leuchtdichte) und die Fehlererkennung.
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| | Farbgleichmäßigkeit von µLED-Displays: Neues Farbkalibrierungskonzept für schnelle und genaue optische Tests | |
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| Die besonderen Eigenschaften der µLEDs für Display-Anwendungen fordern die Messtechnik heraus, z. B. durch ihre schmale Emissionsbandbreite und einer großen Wellenlängenvariabilität in Abhängigkeit von ihren elektronischen Betriebsparametern. Aus diesem Grund haben wir neue bildgebende Testlösungen entwickelt, mit denen Farbmessungen auch bei stark variierenden spektralen Eigenschaften der µLEDs schnell und genau durchgeführt werden können.
Dr. Tobias Steinel, Freitag 21. Mai 2021
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| | \\ Fachartikel in der LED Professional Review 1/21
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| | | | Temperatur-sensitive High-Power-LEDs unverfälscht charakterisieren | |
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| Eine aktuelle Untersuchung zeigt, dass für eine unverfälschte Charakterisierung von Next-Generation-LEDs Short-Pulse-Messungen erforderlich sind, die weniger als 40 Mikrosekunden andauern (vgl. LED Professional Review 1/21, „Short-Pulse Testing Eliminates Self-Heating Errors to Produce True L-I-Graphs“). Über solch ein Short-Pulse-Testing ist es möglich, das wärmeinduzierte Absinken der Leistung deutlich zu verringern und den Roll-Over-Effekt zu vermeiden (siehe Abbildung).
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| | | \\ TREFFEN SIE UNS DIGITAL! |
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